6 Novembre 2014

Charge utile

L'expérience embarquée est simple, mais les répercussions pour le CNES et l'ensemble de l'industrie spatiale sont importantes. Elle consiste à mesurer la dégradation des paramètres électriques des composants électroniques bipolaires de type comparateur de tension LM139 et amplificateur de tension LM124 couramment utilisés dans les satellites. Ces composants sont connus pour se dégrader lorsque des doses de rayonnements sont déposées dans le composant. Paradoxalement cette dégradation est d'autant plus importante que le débit de dose de radiation est faible. Les paramètres mesurés sont les courants d'entrée, les courants d'alimentation, les tensions de sortie ainsi que l'environnement : température et dose. Le dosimètre OSL conçu par le groupe RADIAC de l'Institut d'Electronique du Sud (IES – Université Montpellier 2) est déjà présent sur des expériences telles que Carmen 2 du CNES à bord de Jason-2. Chaque donnée sera mesurée toutes les 12 h, la dose reçue toutes les 90 minutes, la température toutes les 6 minutes.

L'apport de cette expérience est la validation d'une nouvelle méthode de test au sol des composants développée par l'Université Montpellier 2. Les conclusions de cette étude intéressent tous les acteurs du secteur spatial, aussi bien ceux qui éditent les normes de test, comme l'ESA, que ceux qui les appliquent, comme EADS-Astrium, Thalès Alenia Space, ou les fabricants de composants qualifiés pour le spatial comme Texas Instrument et Interstil.

Schéma Charge Utile ROBUSTA
Synoptique de la carte expérience
La carte expérience mesure la dégradation des composants bipolaires

Comment irradier les composants de test en protégeant les autres ?
Ouverture d'une fenêtre de dimensions 60 x 12 mm :
Forte Dose sur les composants de test directement exposés (60 krad)
Dose modérée sur les autres composants (3 krad)
 CAO du satellite présentant la carte expérience derrière le fenêtrage
CAO du satellite présentant la carte expérience
derrière le fenêtrage